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QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀
簡要描述：QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀測量鐵基及非鐵基材質膜厚QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。
產品型號： QNIX4200/4500
所屬分類：安規(guī)計量儀器
更新時間：2024-09-10
廠商性質：生產廠家
詳情介紹
QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀
QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化/分體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。
QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀
在傳統(tǒng)QNix®4500基礎上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix®4500（分體式）機，探頭和主機之間通過一根探頭線連接起來，可以滿足特定測量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測量更方便，使用更人性化，性價比更高
為了迎合用戶需要，還推出QNix®4500（大量程）機，使在鐵基測量模式下量程可擴大到5mm。
產品優(yōu)點：
• 只需調零，無需校準
• 體積小巧，操作方便
• 一機雙用，自動識別基體
• 精度高
• 價格便宜
QNix®4500（分體式）介紹
1簡單快速測量
2不需要校準
3自動開關機
4大量程FE:0-5000umNFE:0-3000um
5雙用探頭，性價比高
6霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定
7測量時聲音同步
8紅寶石耐磨頭，壽命長
9背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
10自動識別測量基體
11分體式探頭，滿足不同的測量環(huán)境
QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化/分體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。
QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀
在傳統(tǒng)QNix®4500基礎上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix®4500（分體式）機，探頭和主機之間通過一根探頭線連接起來，可以滿足特定測量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測量更方便，使用更人性化，性價比更高
為了迎合用戶需要，還推出QNix®4500（大量程）機，使在鐵基測量模式下量程可擴大到5mm。
產品優(yōu)點：
• 只需調零，無需校準
• 體積小巧，操作方便
• 一機雙用，自動識別基體
• 精度高
• 價格便宜
QNix®4500（分體式）介紹
1簡單快速測量
2不需要校準
3自動開關機
4大量程FE:0-5000umNFE:0-3000um
5雙用探頭，性價比高
6霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定
7測量時聲音同步
8紅寶石耐磨頭，壽命長
9背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
10自動識別測量基體
11分體式探頭，滿足不同的測量環(huán)境
| 技術參數(shù) | |
| 磁性基體（Fe模式） | QNix4200/4500均有此功能 |
| 非磁性基體（NFe模式） | QNix4500有此功能 |
| 測量范圍 | QN4200：Fe:0-3000um |
| QNIX4500：Fe：0-3000um；NFe：0-3000um | |
| QNIX4500（5mm型）：Fe:0-5000um；NFe:0-3000um | |
| QNIX4500（分體型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um | |
| 顯示精度 | 0.1um |
| 精度 | 0-50um:≤±1um |
| 50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) | |
| 1000-3000um≤±3%讀數(shù) | |
| zui小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
| zui小曲率半徑 | 凸面：3mm；凹面：25mm |
| zui小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
| 溫度補償范圍 | 0-60℃ |
| 顯示 | LCD液晶（帶背光） |
| 探頭 | 紅寶石固定式 |
| 電源 | 2×1.5V干電池 |
| 尺寸 | 100×60×27mm |
| 重量 | 110g |
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